[发明专利]不等深度微纳沟槽结构成形方法无效
| 申请号: | 200710064689.4 | 申请日: | 2007-03-23 |
| 公开(公告)号: | CN101022078A | 公开(公告)日: | 2007-08-22 |
| 发明(设计)人: | 董小春;杜春雷;罗先刚 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/308;B82B3/00 |
| 代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 | 代理人: | 贾玉忠;卢纪 |
| 地址: | 61020*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | 本发明提供一种不等深度微纳沟槽结构成形方法,通过以下步骤实现:首先在二元微纳沟槽阵列结构表面制作特定面形的连续结构,然后通过各向异性干法刻蚀技术将连续面形结构与沟槽结构特定区域同时刻蚀。干法刻蚀传递过程中,连续面形结构将对沟槽结构特定区域进行调制。最终获得沟槽深度经连续调制的微纳结构。该方法可成形各种不等深度的亚微米甚至纳米级沟槽结构;此类结构可很好的实现表面等离子体波的位相操控。为实用化表面等离子体波结构的制作提供了途径。 | ||
| 搜索关键词: | 不等 深度 沟槽 结构 成形 方法 | ||
【主权项】:
1、不等深度微纳沟槽结构成形方法,包括以下步骤:1)在基底表面热蒸镀沉积金属膜层、涂布抗蚀剂层;在所述抗蚀剂层上制等深度沟槽结构;2)对抗蚀剂沟槽结构底部暴露出的金属进行腐蚀;3)去除金属表面抗蚀剂,在金属结构表面再次涂布抗蚀剂层,并在所述沟槽结构表面制作连续面形微结构;4)采用干法刻蚀工艺对连续面形微结构进行刻蚀,当连续微结构完全被刻蚀传递至基底表面时停止刻蚀;5)去掉所述微结构表面的金属膜层,得到不等深度微纳沟槽结构。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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