[发明专利]采用三环法测量导电环接触电阻的方法无效

专利信息
申请号: 200710064688.X 申请日: 2007-03-23
公开(公告)号: CN101021558A 公开(公告)日: 2007-08-22
发明(设计)人: 姜彬;范天泉;曹学东 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01R27/14 分类号: G01R27/14
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人: 贾玉忠;卢纪
地址: 61020*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 采用三环法测量导电环接触电阻的方法,属于电学测试计量领域,其特点在于:将导电环三环分为一组,将导电环旋转部分的三条引线短接,固定部分的两条引线分别接入恒定的电流信号,采用电压测试仪器测量另一条引线和接入信号的两条引线中任一引线两端间的电压,根据欧姆定律由测得电压值范围和接入电流值即可计算出导电环的接触电阻值范围,此电阻值范围即为导电环的动态接触电阻。本发明解决了目前导电环动态接触电阻测量工作中存在的导线缠绕问题,并且可以得到每一环的动态接触电阻。
搜索关键词: 采用 三环法 测量 导电 接触 电阻 方法
【主权项】:
1、采用三环法测量导电环接触电阻的方法,其特征在于:(1)将导电环三环分为一组,将导电环旋转部分的三条引线短接;(2)固定部分的两条引线分别接入恒定的电流信号,采用电压测试仪器测量另一条引线和接入信号的两条引线中任一引线两端间的电压,根据欧姆定律由测得电压值范围和接入电流值即可计算出导电环的接触电阻值范围,此电阻值范围即为导电环的动态接触电阻。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710064688.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top