[发明专利]一种杂光测试仪无效
| 申请号： | 200710056151.9 | 申请日： | 2007-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN101144750A | 公开（公告）日： | 2008-03-19 |
| 发明（设计）人： | 谷立山;王立朋;张晓辉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01M11/02 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 | 代理人： | 赵炳仁 |
| 地址： | 130033吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种杂光测试仪，该杂光测试仪包括积分球，光源，目标板，可变光栏，探测器，调整架，四维移动机构；探测器可以在四维移动机构上作三维(X、Y、Z)方向平移，并且在水平方向可绕Y轴旋转的。本发明即可以对像面照度进行均匀性测试，又可以实现像面是平面的和球面的光学系统杂光系数的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试仪 | ||
【主权项】：
1.一种杂光测试仪，包括积分球，光源，目标板，可变光栏，探测器，调整架，其特征在于还包括四维移动机构；探测器(7)在四维移动机构上可以作三维方向平移，并且在水平方向可绕Y轴旋转。
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