[发明专利]有源驱动有机电致发光显示屏中多晶硅TFT阵列的制作方法无效
| 申请号: | 200710056020.0 | 申请日: | 2007-08-31 |
| 公开(公告)号: | CN101123222A | 公开(公告)日: | 2008-02-13 |
| 发明(设计)人: | 张彤;王丽杰;刘雪强;李传南;刘式墉 | 申请(专利权)人: | 吉林大学 |
| 主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84 |
| 代理公司: | 长春吉大专利代理有限责任公司 | 代理人: | 张景林;刘喜生 |
| 地址: | 130023吉林省*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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| 摘要: | 本发明属于平板显示驱动技术领域,具体涉及一种有源驱动有机电致发光显示屏中多晶硅TFT阵列的制作方法。首先是制作多晶硅薄膜,然后光刻形成TFT区、电容下极板区、有机电致发光二极管的阳极区和重掺杂多晶硅的连线;制作栅绝缘层之后光刻形成过孔,用于连接多晶硅和金属;再溅射金属,光刻金属,形成金属栅极和金属连线,同时给电容下极板掺杂区开出掺杂窗口,之后再利用自对准进行掺杂,对TFT的源漏电极,多晶硅短线互连区,电容下极板需要掺杂区进行重(BH3)P型掺杂;最后制备绝缘层、发光窗口、OLED发光层。本发明所述方法的整个工艺过程只需要4次光刻,与通常的Poly-Si TFT工艺过程相比减少2次以上,具有工艺简单的优良效果。 | ||
| 搜索关键词: | 有源 驱动 有机 电致发光 显示屏 多晶 tft 阵列 制作方法 | ||
【主权项】:
1.有源驱动有机电致发光显示屏中多晶硅TFT阵列的制作方法,其步骤如下:(1).将退火的玻璃基片(7)湿法清洗后氮气吹干,在其上用PECVD法沉积300~500nm低温氧化硅LTO,作为衬底缓冲层(5),用以阻挡玻璃基片中的杂质;(2).沉积40~80nm本征的非晶硅(a-Si)薄膜(14);(3).沉积50~60nm SiNX绝缘层(15);(4).溅射20~50的Ni金属诱导层(16);(5).在退火炉中退火,在Ni金属的诱导下实现a-Si非晶硅层(14)转化为Poly-Si多晶硅层(34),之后清除Poly-Si多晶硅层(34)上的SiNX层(15)和Ni金属诱导层(16);(6).光刻Poly-Si多晶硅层(34),形成单元像素驱动电路中有机薄膜晶体管T1的包括源区、漏区及源区与漏区间沟道区的有源区(17)、T2的包括源区、漏区及源区与漏区间沟道区的有源区(27)、电容Cs下极板区(18)、发光二极管阳极区(20)、Vdata的多晶硅连线区(19)和VDD 的多晶硅连线区(29),其中T1的漏区与电容下极板区(18)为一体结构,T2的漏区与发光二极管OLED的阳极区(20)为一体结构;Vdata 多晶硅连线区(19)与晶体管T1的源区为一体结构,而VDD多晶硅连线区(29)相对其它区域独立;(7).沉积60~100nm氮化硅SiNX作为栅绝缘层(21);(8).光刻氮化硅SiNX栅绝缘层(21),形成多个过孔(22);(9).用磁控溅射的方法制备200~300nm金属层(23),多个过孔(22)经溅射金属层(23)后形成多个金属过孔(24),用以实现金属层(23)及Poly-Si多晶硅层(34)间的引线互连;(10).光刻金属层(23),形成金属引线Vse1,分立的Vdata、VDD金属引线及晶体管T1的栅电极(201)、晶体管T2的栅电极(202)、电容上极板(9),同时给电容下极板区(18)留出一个或多个的掺杂窗口(32),最后将金属引线、栅电极、电容上极板区以外的氮化硅绝缘层(21)刻蚀掉,从而在Poly-Si多晶硅层(34)上露出未掺杂的晶体管T1的源漏区、T2源的源漏区、电容Cs下极板掺杂区、发光二极管阳极区20;(11).对上述步骤露出的Poly-Si多晶硅层进行P型离子注入,从而获得重掺杂的晶体管T1的源区(4011)、漏区(4012),T2的源区(4021)、漏区(4022),电容Cs下极板掺杂区(12)、OLED阳极掺杂区(13),然后在500℃、氮气下处理3~5h完成掺杂杂质的活化过程,最后进行H钝化;(12).沉积500~700nm的LTO作为绝缘层(1);(13).光刻绝缘层(1),形成发光区窗口(25);(14).在发光区窗口(25)上制作OLED发光器件层(8),从而利用金属诱导法完成P-SiTFT驱动OLED像素的单元电路的制备。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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