[发明专利]一种基于光学的模型试验位移测量方法及装置无效
| 申请号： | 200710051571.8 | 申请日： | 2007-02-12 |
| 公开（公告）号： | CN101033962A | 公开（公告）日： | 2007-09-12 |
| 发明（设计）人： | 罗先启;李宏阶;张振华;吴剑;王志俭;曹玲;张峰;李运江;涂鹏飞 | 申请（专利权）人： | 三峡大学 |
| 主分类号： | G01C11/06 | 分类号： | G01C11/06 |
| 代理公司： | 宜昌市三峡专利事务所 | 代理人： | 成钢 |
| 地址： | 44300*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光学的模型试验位移测量方法及装置，属于测量技术领域。主要技术方案是在被测试模型上设置标志点，通过摄像设备进行图像采集，并提取不同时刻的图像。将提取到的图像导入测试分析系统，可以得到各测试点的位移或变形。本发明可以实时记录模型标记点的变形过程，并通过数字图像处理得到满足较高精度要求的位移。该测试系统能用来进行较高精度的模型试验中位移测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光学 模型 试验 位移 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种基于光学的模型试验位移测量方法，其特征在于：在模型测试面布设标志点，标志点嵌固在试验模型中，使标志点与模型变形测点始终保持一致；将摄像设备布设在与测试平面垂直位置，保证摄像的有效范围，使摄像所得到的数字图像像素对应物理尺寸控制在精度要求范围内；摄像设备将试验过程的图像转换为图像信号，图像信号经过图像采集卡采集压缩形成流媒体文件；将得到的流媒体文件导入计算机进行处理后得到位移量。
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