[发明专利]测量1/4波片的相位延迟和快轴方向的方法和装置无效
| 申请号： | 200710038116.4 | 申请日： | 2007-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN101021447A | 公开（公告）日： | 2007-08-22 |
| 发明（设计）人： | 薄锋;朱健强;康俊;范微 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01J4/00 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种测量1/4波片的相位延迟和快轴方向的方法和装置，该方法的原理是：采用了椭圆偏振的光强探测技术，依次将λ/4菲涅尔双菱体和待测1/4波片置于起偏器和检偏器之间，转动待测1/4波片和检偏器至不同的位置并探测输出的光强，即可得到1/4波片的相位延迟和快轴的方向。本发明装置能够在宽光谱范围内同时测量不同波长的1/4波片的相位延迟和快轴方向，测量精度高，而且操作方便，测量自动完成。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 相位 延迟 方向 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种测量待测1/4波片的相位延迟和快轴方向的方法，其特征在于包括下列步骤：①调整起偏器(3)和检偏器(6)的透偏方向相互垂直：在一单色光束的前进方向同光轴地依次设置起偏器(3)、检偏器(6)、第一聚焦透镜(7)和第一光电探测器(8)，调整起偏器(3)和检偏器(6)的透偏方向相互垂直，逆着光的传播方向看去，起偏器(3)的偏振面在第1象限内且与水平方向X轴的夹角为45°，则检偏器(6)的偏振面应在第2象限内，且与起偏器(3)的偏振面垂直；②给待测1/4波片(5)标记主轴：垂直光路在起偏器(3)和检偏器(6)之间放入待测1/4波片(5)并绕光束转动该待测1/4波片(5)，直到出现消光，第一光电探测器(8)探测到的光强最小，表示待测1/4波片(5)的快轴或慢轴与起偏器(3)的偏振面平行，并标记下该主轴；然后将待测1/4波片(5)绕光束顺时针转动45°，使所标记的主轴与X轴平行，此时，起偏器(3)的透偏方向与所标记的该待测1/4波片(5)的主轴方向的夹角为45°；⑧置入λ/4菲涅尔双菱体(4)置入光路：然后再将λ/4菲涅尔双菱体(4)放入起偏器(3)和待测1/4波片(5)之间的光路中，并使光束垂直入射λ/4菲涅尔双菱体(4)的端棱面，光束经过λ/4菲涅尔双菱体(4)后产生相位差δFR＝E⊥-E//＝90°，使经过起偏器(3)的线偏振光变为右旋圆偏振光，该右旋圆偏振光再经过待测1/4波片(5)后，这时待测1/4波片(5)上所标记的X轴方向的主轴为慢轴或快轴；④测量：当绕光束顺时针转动检偏器(6)，若光强逐渐变小，直到第一光电探测器(8)探测出最小光强，这时检偏器(6)所转过的角度即为该待测1/4波片(5)的相位延迟，同时表明待测1/4波片(5)所标记的X轴方向的主轴为慢轴；⑤否则，继第⑧步，绕光束顺时针转动所述的检偏器(6)，光强逐渐变大，直到第一光电探测器(8)探测出最大光强，检偏器(6)所转过的角度即为该待测1/4波片(5)的相位延迟，同时表明待测1/4波片(5)上所标记的X轴方向的主轴为快轴。
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