[发明专利]一种测量粒子粒径的方法无效
| 申请号： | 200710036728.X | 申请日： | 2007-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN101231161A | 公开（公告）日： | 2008-07-30 |
| 发明（设计）人： | 吴志军;田志松;黄成杰;李理光 | 申请（专利权）人： | 同济大学 |
| 主分类号： | G01B11/10 | 分类号： | G01B11/10;G06T7/00 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人： | 吴林松 |
| 地址： | 20009*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 利用粒子图像灰度差异测量粒径的方法，属于粒径光学测量技术领域，本方法利用用于灰度统计判别查询的粒子图像速度场仪成像系统获得流场经两次曝光形成的具有灰度差异的粒子图像，经图像处理技术预处理后，根据利用粒子图像灰度自相关测量粒子速度的方法实现同一粒子两次曝光对应两粒子像点的配对，由两粒子像点的灰度总和经粒径求解公式得到粒子粒径大小，从而获得整个流场的粒子粒径信息，本方法对激光光强稳定性要求降低，减少了系统误差、数字图像处理技术以及激光衍射对粒径测量结果的影响，克服了现有技术中的不足和缺陷，具有实质性特点和显著进步。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 粒子 粒径 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量粒子粒径的方法，其特征在于：使用用于灰度统计判别查询的粒子图像速度场仪成像系统拍摄流场粒子图像，并利用粒子图像灰度差异测量粒径。
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