[发明专利]热阻测试设备的校验装置无效

专利信息
申请号: 200710024945.7 申请日: 2007-07-16
公开(公告)号: CN101349613A 公开(公告)日: 2009-01-21
发明(设计)人: 江大阳 申请(专利权)人: 汉达精密电子(昆山)有限公司
主分类号: G01M19/00 分类号: G01M19/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 21530*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明揭示一种热阻测试设备的校验装置,该装置包括:一导热底板;一标准热阻块,设于上述导热底板上,该标准热阻块底面设有一第一探头容置槽,该标准热阻块于底面相对一面设有一第二探头容置槽,该第一、第二探头容置槽内分别设有一第一、第二温度探头;一散热器,设于上述标准热阻块上;一风扇,设于上述散热器上,该风扇上设有一与之电性连接的受控电源线;一控制器,其上设有一第一探头连接部、一第二探头连接部、一第三探头连接部、一第三温度探头,该第一、第二、第三探头连接部分别与第一、第二、第三温度探头连接。利用该热阻测试设备的校验装置可以实现对热阻测试设备的校验。
搜索关键词: 测试 设备 校验 装置
【主权项】:
1、一种热阻测试设备的校验装置,该装置可以用于对热阻测试设备的校验,其特征在于,该装置包括:一导热底板;一标准热阻块,设于上述导热底板上;一散热器,设于上述标准热阻块上;一风扇,设于上述散热器上,该风扇上设有一与之电性连接的受控电源线;一控制器,其上设有一第一探头连接部、一第二探头连接部、一第三探头连接部、一第三温度探头。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于汉达精密电子(昆山)有限公司,未经汉达精密电子(昆山)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710024945.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top