[发明专利]基于射线衰减能量场的无损检测缺陷提取、识别方法无效
| 申请号： | 200710018884.3 | 申请日： | 2007-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN101201329A | 公开（公告）日： | 2008-06-18 |
| 发明（设计）人： | 高建民;陈富民;申清明;李成;刘军强 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01N23/18 | 分类号： | G01N23/18;G06T7/40;G06T7/60 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 | 代理人： | 张震国 |
| 地址： | 710049*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 基于射线衰减能量场的无损检测缺陷提取、识别方法，首先，根据射线检测以及数字成像建立底片图像灰度与衰减能量场分布之间的关系，从射线底片图像中获取缺陷边界；然后，基于射线衰减能量场对所述缺陷提取方法得到的缺陷进行类型识别；最后，根据能量衰减原理，对所述缺陷类型识别方法得到的缺陷进行体积测量。由于本发明利用射线能量穿透不同材质所表现的衰减特征，建立射线能量衰减特征与底片图像灰度的对应规律，利用计算机对灰度图像的解析度远远超过人眼的优势，从而实现产品零部件缺陷的自动提取、识别以及三维体积测量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 射线 衰减 能量 无损 检测 缺陷 提取 识别 方法 | ||
【主权项】：
1.基于射线衰减能量场的无损检测缺陷提取、识别方法，其特征在于：1)依据射线穿过不同物质的能量衰减规律，建立射线检测底片数字化图像灰度与射线衰减能量场的关系，确定射线底片图像中的缺陷边界；2)基于射线能量场的衰减特征对所确定的缺陷进行类型识别；3)根据射线能量衰减的强度以及与图像灰度的对应关系，对缺陷体积进行测量。
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