[发明专利]半导体能束探测元件有效

专利信息
申请号: 200710007043.2 申请日: 2001-03-28
公开(公告)号: CN1996607A 公开(公告)日: 2007-07-11
发明(设计)人: 米田康人;赤堀宽;村松雅治 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 光电二极管阵列(1)包括P+扩散层(4、5)和N+沟道阻挡层(6、7)以及N+扩散层(8)。P+扩散层(4、5)和N+沟道阻挡层(6、7)设置在半导体衬底(3)的背面一侧。N+沟道阻挡层(6)设置在相邻的P+扩散层(4、5)之间,具有网络状以隔离P+扩散层(4、5)。N+沟道阻挡层(7)在P+扩散层阵列的外侧与N+沟道阻挡层(6)接连起来被设置成框状。N+沟道阻挡层(7)的宽度被作成为比N+沟道阻挡层(6)的宽度宽。闪烁体光学性地连接到半导体衬底(3)的入射面上。
搜索关键词: 半导体 探测 元件
【主权项】:
1.一种半导体能束探测元件,其特征在于,具备由第1导电类型的半导体构成的半导体衬底,所述半导体衬底具有入射规定波长区域的能束的入射面,在与所述半导体衬底的所述入射面相反的背面一侧,设置有由第2导电类型的半导体构成的多个第2导电类型的扩散层;和由杂质浓度比所述半导体衬底高的第1导电类型的半导体构成的第1导电类型的扩散层;所述第1导电类型的扩散层,由设置在所述第2导电类型的扩散层之间,用于分离所述第2导电类型的扩散层的第1部分的第1导电类型的扩散层,和设置在所述半导体衬底的端部的第2部分的第1导电类型的扩散层构成;所述第1部分的第1导电类型的扩散层和所述第2部分的第1导电类型的扩散层电连接。
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