[发明专利]双层可记录光学记录介质无效

专利信息
申请号: 200710005944.8 申请日: 2007-02-15
公开(公告)号: CN101025966A 公开(公告)日: 2007-08-29
发明(设计)人: 藤井俊茂;笹登;林嘉隆;藤原将行;三浦裕司;篠塚道明;真贝胜;关口洋义;岩佐博之;山田胜幸;鸣海慎也;加藤将纪 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: G11B7/24 分类号: G11B7/24;G11B7/243;G11B7/252
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 杨梧;王景刚
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种双层可记录光学记录介质,包括:第一信息层;置于所述第一信息层上的中间层;以及置于所述中间层上的第二信息层,从激光照射侧依次沉积所述第一信息层、中间层和第二信息层,其中所述第一信息层从所述激光照射侧至少包括:包含Bi作为主成分的薄膜、电介质层、反射层和热扩散层,所述第二信息层从所述激光照射侧至少包括:包含Bi作为主成分的薄膜、电介质层和反射层,且其中所述第二信息层的电介质层的厚度(t2)与第一信息层的电介质层的厚度(t1)之比t2/t1的范围为0.7至1.5或者4.5至6.0。
搜索关键词: 双层 记录 光学 介质
【主权项】:
1.一种双层可记录光学记录介质,包括:第一信息层;置于所述第一信息层上的中间层;以及置于所述中间层上的第二信息层,从激光照射侧依次沉积所述第一信息层、中间层和第二信息层,其中所述第一信息层从所述激光照射侧至少包括:包含Bi作为主成分的薄膜(Re层)、电介质层、反射层和热扩散层,所述第二信息层从所述激光照射侧至少包括:包含Bi作为主成分的薄膜(Re层)、电介质层和反射层,且其中所述第二信息层的电介质层的厚度(t2)与第一信息层的电介质层的厚度(t1)之比t2/t1的范围为0.7至1.5或者4.5至6.0。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社理光,未经株式会社理光许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710005944.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top