[发明专利]半导体器件

摘要

本发明提供一种半导体器件，该半导体器件不需要增加探针的数量，能够实施高精度的老化和探针测试。分别对测试专用电源焊盘(303)提供电源电位，对测试专用接地焊盘(313)提供接地电位。提供给测试专用电源焊盘(303)的电源电位，经由测试专用电源布线(203)、由二极管元件(500、501、502)构成的电位传送电路(420、421、422)，分别传送到电源布线(200、201、202)，然后提供给电路块(100、101、102)。虽然由二极管元件(500～502)产生电压降，但通过设定二极管元件(500～502)的大小、电位传送电路(420～422)的电阻成分，以使对电源布线(200～202)分别均匀地产生电压降，由此能够不使半导体集成电路(10)内产生电压不均匀地实施晶片级老化和探针测试。

主权项

1.一种半导体器件，其特征在于，包括：多个电路块，分别具有相互独立的电源系统，多个电源布线，分别连接在上述多个电路块，多个电源焊盘，分别对上述多个电源布线提供电位，测试专用电源布线，不直接连接在上述多个电路块中的任一个上，测试专用电源焊盘，对上述测试专用电源布线提供电位，以及多个电位传送电路，从上述测试专用电源布线对上述多个电源布线传送电位。