[发明专利]用对焦区域中子区域的亮度值进行背光侦测的系统及方法有效
申请号: | 200710003606.0 | 申请日: | 2007-01-18 |
公开(公告)号: | CN101227564A | 公开(公告)日: | 2008-07-23 |
发明(设计)人: | 吴宗达;周宏隆 | 申请(专利权)人: | 华晶科技股份有限公司 |
主分类号: | H04N5/243 | 分类号: | H04N5/243;H04N5/235 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 梁挥;祁建国 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种利用对焦区域中子区域的亮度值进行背光侦测的系统及其方法,应用于图像撷取装置上,将对焦区域切割为多个子区域并计算各子区域的亮度值,而后依据各子区域的亮度值转换为0与1的编码后组合产生用以表示整个对焦区域的编码,经过对比预先建立的背光侦测表来判断各编码所对应代表的状态值,以决定被拍摄的主体是否背光。 | ||
搜索关键词: | 对焦 区域 中子 亮度 进行 背光 侦测 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种利用对焦区域中子区域的亮度值进行背光侦测的方法,应用于一图像撷取装置上,该方法包含下列步骤:对焦一主体并设定一对焦区域;切割该对焦区域为多个子区域;计算各该子区域分别对应的一亮度值;依据各该亮度值产生多个编码,并组合该多个编码为一编码组;及依据该编码组到一背光侦测表中读取相对应的一状态值,当该状态值表示为背光时,判断该主体背光。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华晶科技股份有限公司,未经华晶科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710003606.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种采用带齿片动环、密封腔设置隔舌的密封装置
- 下一篇:电动胡椒磨