[发明专利]用于检测导电连接的接触缺陷的测试设备及方法

摘要

本发明涉及根据权利要求1、2和23的前序部分所述的、用于检测导电连接的接触缺陷的测试设备和方法。本发明使得能够使需要以非常精确且质量敏感的方式来制造的(例如飞行器中的)、预制的导电连接受到预防性测试。该测试设备包括：测量室，在该测量室中定位有导电地相连接的、所述连接的若干系统元件；被供应能量的热辐射器，该热辐射器的传送的热辐射被发射到测量室中并被定向成朝向所述系统元件的区域，其中所述系统元件在被加热之后产生这些相连接的系统元件的绝缘金属系统组件的热场；热(图像)获取单元，用于光学地采集所产生的热场和实现向所述相连接的系统元件的热图像的信号转换；以及热(图像)再现单元，用于可视化地再现转换后的热图像，其中，热(图像)获取单元和热(图像)再现单元利用信息技术相连接。用包括若干步骤并利用该测试设备的方法可以检测到导电连接的已有的接触缺陷。

主权项

1. 一种用于检测导电连接(5)的接触缺陷的测试设备(1)，其中所述导电连接(5)是利用若干具有绝缘金属组件的导电系统元件(6，7，8)来实现的，并且用于传导信号或能量，其中所述测试设备(1)包括：测量室(2)；热辐射器(9，9R)；热(图像)获取单元(11，11R)；以及热(图像)再现单元(13，13R)；其中所述导电连接(5)的系统组件(6，7，8)被定位在所述测量室(2)中，其中所述系统组件(6，7，8)导电地相互连接；其中所述热辐射器(9，9R)被供应能量；其中所述热辐射器的传送的热辐射(91，91R)被发射到测量室(2)中，并且所述热辐射(91，91R)被定向为朝向所述系统元件(6，7，8)的区域，使得产生这些相连接的系统元件(6，7，8)的所述绝缘金属系统组件的热场(12，12R)，其中所述热(图像)获取单元(11，11R)适用于光学地采集由所述连接的系统元件(6，7，8)的被加热的绝缘金属系统组件发射的、所产生的热场(12，12R)，以及实现将信号转换成所述相连接的系统元件(6，7，8)的热图像；以及其中所述热(图像)再现单元(13，13R)适用于实现对所转换的热图像的可视化再现，其中所述热(图像)获取单元(11，11R)和所述热(图像)再现单元(13，13R)通过信息技术方式而相连接。