[发明专利]用于电路管芯的高热性能封装有效
申请号: | 200680053007.3 | 申请日: | 2006-12-21 |
公开(公告)号: | CN101375389A | 公开(公告)日: | 2009-02-25 |
发明(设计)人: | K·H·蔡;B·恩乔曼;Z·P·雄 | 申请(专利权)人: | 艾格瑞系统有限公司 |
主分类号: | H01L21/82 | 分类号: | H01L21/82 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 柴毅敏 |
地址: | 美国宾*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 电路管芯设置在由模具限定的区域中。然后将成型材料引入所述区域以封装所述电路管芯。在所述成型材料基本上固化之前,模具材料的至少一部分从所述电路管芯的表面上方去除,以在封装材料中形成凹进区域。然后,散热器可以设置在所述凹进区域内,并设置在所述封装材料的顶表面上方。所述散热器可以具有下凹部,该下凹部与所述凹进区域大致对准并减小了所述散热器和所述间隔垫之间的距离,以实现更好的散热。 | ||
搜索关键词: | 用于 电路 管芯 高热 性能 封装 | ||
【主权项】:
1.一种用于电路管芯的封装方法,所述方法包括:利用成型材料封装电路部件,所述电路部件包括电路管芯;去除所述电路管芯上的所述成型材料的至少一部分,以在所述成型材料内产生凹进区域;以及在所述成型材料的所述凹进区域上设置散热器。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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