[发明专利]部分放电电荷量测定方法以及装置无效
| 申请号： | 200680044795.X | 申请日： | 2006-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN101317098A | 公开（公告）日： | 2008-12-03 |
| 发明（设计）人： | 大塚信也;匹田政幸;手岛隆志;林祐史 | 申请（专利权）人： | 国立大学法人九州工业大学 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王岳;刘宗杰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明具备：天线，该天线测定成为测定对象的设备的部分放电放射电磁波，并具有至少UHF频带的灵敏度；以及测定装置主体，该测定装置主体具备：滤波器，从测定的时间波形抽取TEM模成分；以及处理部，求出该滤波器处理后的时间波形的二阶积分值，从该值求出放电电荷量。进而，具备：电磁波放射模拟装置，其用于对成为测定对象的设备输入模拟放电信号，预先求出二阶积分值和放电电荷量的关系，所述处理部所求出的放电电荷量能够使用预先求得的二阶积分值和放电电荷量的关系从二阶积分值求出。 | ||
| 搜索关键词： | 部分 放电 电荷 测定 方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
1.一种部分放电电荷量测定方法，其中包括：通过具有至少UHF频带的灵敏度的天线来测定成为测定对象的设备的部分放电放射电磁波，从测定的时间波形中通过滤波器抽取TEM模成分，而且求出该滤波器处理后的时间波形的二阶积分值，从该求得的二阶积分值求出放电电荷量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国立大学法人九州工业大学，未经国立大学法人九州工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200680044795.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种砼填充用充气胎模
- 下一篇：一种铝塑瓶盖生产线使用的瓶盖装箱设备
