[发明专利]确定表面的反射特征方法和设备无效

专利信息
申请号: 200680043871.5 申请日: 2006-11-22
公开(公告)号: CN101313208A 公开(公告)日: 2008-11-26
发明(设计)人: M·弗兰基奈特 申请(专利权)人: 施雷德公司
主分类号: G01N21/47 分类号: G01N21/47;G01N21/57;G01B11/30
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 秦晨
地址: 比利时*** 国省代码: 比利时;BE
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摘要: 发明涉及确定特定表面的光反射特性的方法,通过对多个比较表面测量依照CIE标准推荐的r表;用“便携式”测量设备对相同的多个比较表面测量所选的入射光角(γ)和反射光角(90°-α)和(β)的光反射参数;用所述“便携式”设备在所述特定表面的多个测量点上就地测量所述角(γ)、(α)和(β)的所述参数;选择性地考虑亮度系数Q0的重标度因数,将特定表面的所述参数的角分布与所述比较表面的所述参数的角分布进行比较,以便选择显示最佳分布拟合的比较表面;并用所述的选择性重标度因数将与所述所选的比较表面相对应的“r表”分配给所述特定表面。
搜索关键词: 确定 表面 反射 特征 方法 设备
【主权项】:
1.一种用于通过从多个对比较表面测量的“折减亮度系数表”(r表)中选择适合于表征特定表面的表,来确定所述特定表面的光反射特性的方法,其特征在于所述方法包括:用依照CIE标准推荐的测量设备对多个比较表面的样品测量其r表的参数,用“便携式”测量设备对所述多个比较表面的那些相同样品测量入射光角(γ)和反射光角(90°-α)和(β)的所选组合的所选光反射参数,用所述“便携式”设备在所述特定表面的多个测量点就地测量入射光的角(γ)和反射光的角(90°-α)和(β)的所述所选组合的所述所选光反射参数,选择性地考虑亮度系数Q0的重标度因数,通过数学和/或图像分析将特定表面的所述所选参数的角分布与所述比较表面的所述所选参数的角分布进行比较,以便选择显示出最佳分布拟合的比较表面,和使用所述的选择性重标度因数向所述特定表面分配与所述所选比较表面相对应的“r表”的光反射特性。
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