[发明专利]P-N结二极管及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200680043427.3 申请日: 2006-08-17
公开(公告)号: CN101313408A 公开(公告)日: 2008-11-26
发明(设计)人: S-H·戴;Y-C·金;C-J·黄;L·C·高 申请(专利权)人: 维谢综合半导体有限责任公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L21/329;H01L29/06
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 陈松涛;王英
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 可用于瞬变电压抑制的面层注入二极管,其具有P+衬底(12),在所述衬底的顶表面附近注入N型掺杂剂面层注入物(14),制造出P-区域(18)。邻近P-区域且在其上层叠氧化物掩模(20)。从P-区域的一部分部分地蚀刻掉氧化物掩模,制造出蚀刻区域(22)。向所述蚀刻区域中注入N型主结注入物(24),在所述P+衬底之上且邻近所述P-区域制造出N+区域(26)。并且,在蚀刻区域中所述氧化物掩模之上层叠金属(28)以形成电极。可以将端子电附着到P-N结的两侧。还提供了制造和使用本发明的方法以及瞬变电压抑制方法。
搜索关键词: 二极管 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种面层注入二极管,其包括:P+衬底,在该衬底的顶表面附近利用N型掺杂剂面层注入物对该衬底进行注入,制造出P-区域;邻近所述P-区域且在其上层叠的氧化物掩模,从所述P-区域的一部分部分地蚀刻掉所述氧化物掩模,制造出蚀刻区域;注入到所述蚀刻区域中以在所述P+衬底之上且邻近所述P-区域制造出N+区域的N型主结注入物;以及层叠在所述氧化物掩模和所述蚀刻区域之上的金属。
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