[发明专利]存储器诊断装置有效

专利信息
申请号: 200680042518.5 申请日: 2006-09-20
公开(公告)号: CN101310343A 公开(公告)日: 2008-11-19
发明(设计)人: 神余浩夫;石冈卓也 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56;G11C29/10;G11C11/413
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种存储器诊断装置,其能够在维持一定程度的诊断精度的同时进行高速的耦合故障诊断。该存储器诊断装置具有:字内测试单元,其在存储器的每个字中,针对该字内的各位而测试耦合故障;字间测试单元,其在存储器的每个由多个字构成的局部字段中,针对局部字段内的各字间测试耦合故障;以及块间测试单元,其测试存储器中的局部字段间的耦合故障。
搜索关键词: 存储器 诊断 装置
【主权项】:
1.一种存储器诊断装置,其诊断存储器的故障,其特征在于,具有:块内测试单元,其在上述存储器的每个规定的块中,针对该块内的各位而测试故障;以及块间测试单元,其测试上述存储器中的各块间的故障。
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