[发明专利]集成电路装置以及设计方法

摘要

一种集成电路(IC)装置(10)包括具有数字电路部分(120)的集成电路(100)，该数字电路部分具有多个数字输出端(122)，每个输出端均用于在集成电路(100)测试模式中提供测试结果。装置(10)还包括空间压缩逻辑(140)，该空间压缩逻辑包括具有多个压缩域(162)的空间压缩网络(160)，每个域均用于将多个测试结果压缩成其它测试结果，该空间压缩逻辑还包括耦接在多个数字输出端(122，210)和空间压缩网络(160)之间的传播网络(150)，该传播网络用于将来自数字输出端(122，210)的每个测试结果复制到多个压缩域(162)。该空间压缩逻辑(140)可能位于IC 100上或者位于其外部(例如位于测试仪器上或者测试接口上)，与没有传播网络的SCL相比，该空间压缩逻辑降低了故障抵消或者故障混淆的危险。

主权项

1.一种集成电路装置(10，20)，其包括：集成电路(100，200)，其包括多个数字输出端(122，210)，每个输出端均用于在所述集成电路的测试模式中提供测试结果；以及空间压缩逻辑(140)，其包括：空间压缩网络(160)，其具有多个压缩域(162)，每个域均用于将多个测试结果压缩成其它测试结果；以及传播网络(150)，其被耦接在所述多个数字输出端(122，210)和所述空间压缩网络(160)之间，所述传播网络用于将来自所述数字输出端(122，210)的每个测试结果复制到多个压缩域(162)。