[发明专利]用于井下光学流体分析仪的高压光学单元无效

专利信息
申请号: 200680041620.3 申请日: 2006-11-10
公开(公告)号: CN101305160A 公开(公告)日: 2008-11-12
发明(设计)人: 寺林彻;簗瀬刚 申请(专利权)人: 普拉德研究及开发股份有限公司
主分类号: E21B47/10 分类号: E21B47/10;E21B49/10;G01N33/24;G01N33/28
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 肖鹂
地址: 英属维尔京*** 国省代码: 维尔京群岛;VG
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种用于分析地下地层流体的装置,包括井下工具(10)、设置在井下工具内的流体分析模块(100)、穿过流体分析模块的地层流体流动路径(102)、设置在流体分析模块内的第一空腔(110)和第二空腔(112)、以及分别设置在流体分析模块的第一空腔和第二空腔内的第一窗(114)和第二窗(lie)。第一窗和第二窗每个都包括能够使高压流体隔离的抛光外密封表面。
搜索关键词: 用于 井下 光学 流体 分析 高压 单元
【主权项】:
1.一种用于分析地下地层流体的装置,包括:井下工具;设置在所述井下工具内的流体分析模块;穿过所述流体分析模块的地层流体流动路径;设置在所述流体分析模块内的第一空腔和第二空腔;分别设置在所述流体分析模块的第一空腔和第二空腔内的第一窗和第二窗,所述第一窗和第二窗中的每一个都包括抛光的外密封表面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于普拉德研究及开发股份有限公司,未经普拉德研究及开发股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200680041620.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top