[发明专利]分析多光谱光学探测系统无效
| 申请号： | 200680041148.3 | 申请日： | 2006-11-02 |
| 公开（公告）号： | CN101300478A | 公开（公告）日： | 2008-11-05 |
| 发明（设计）人： | C·J·埃金;W·M·胡弗;R·T·柯尼克 | 申请（专利权）人： | 霍夫曼－拉罗奇有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N33/53 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 刘杰;魏军 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 分析多光谱光学探测系统和方法。光源(1)提供高光谱纯度激励光的一个或多个谱线(例如，离散波长)，该激励光经由发送光缆(3)与样品光学耦合。使用收集光缆(5)，将发射光收集并提供到诸如衍射梯度分光光度计发射探测器(7)之类的发射探测器，其中该收集光缆(5)与发送光缆捆束于邻近样品支架(4)放置的探针接口(8)内。可以在一个或多个样品上方扫描该探针接口，或者可以扫描固定接口探针附近的一个或多个样品。多个激励波长允许对可见光谱内的多个荧光染料同时激励和探测。这增加了样品处理能力并减小了在不同时间与信号采集相关联的信号变化。较其它类似系统而言，该光学系统提供了诸多优点，包括更高的灵敏度、与荧光染料的改善的兼容性、更佳的信号识别、增加的系统可靠性以及减小的制造和维护成本。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 光谱 光学 探测 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于探测样品内的感生光发射的设备，所述设备包括：(a)样品容器；(b)光源，被配置成提供激励光至所述样品容器，所述激励光包括多个不同离散光波长；以及(c)发射探测器，被配置成接收从所述样品容器发射的光并将所述光空间地分离成分量波长。
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