[发明专利]基于散射检测的X射线检查有效
| 申请号： | 200680039624.8 | 申请日： | 2006-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN101379415A | 公开（公告）日： | 2009-03-04 |
| 发明（设计）人： | 彼得·罗思柴尔德;杰弗里·舒伯特;威廉·J·保库斯;威廉·韦德·小萨普;理查德·许勒尔;约瑟夫·卡勒拉穆;威廉·兰德尔·卡森 | 申请（专利权）人： | 美国科技工程公司 |
| 主分类号： | G01V5/00 | 分类号： | G01V5/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 钟强;夏凯 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开利用贯穿辐射的扫描束来检查对象的系统和方法。在后向或前向方向上检测来自束的散射辐射。将反向散射辐射的特性值与预期基准值进行比较来示出对象的特性。此外，可以将透射通过受检对象的贯穿辐射与散射信息组合。在某些实施例中，检查的视野小于0.1立体弧度，以及检测器与贯穿辐射源分开且相对于对象布置检测器，以便在对象的视野中对向大于0.5立体弧度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 散射 检测 射线 检查 | ||
【主权项】：
1.一种用于检查目标对象的方法，包括：利用贯穿辐射的准直束来照射所述目标对象；检测来自所述束的反向散射辐射；基于对于所述目标的部分的参考，得到预期的基准值；将所述反向散射辐射的特性值与所述预期基准值进行比较；以及基于所述比较来确定描述性的类别，所述描述性的类别示出所述对象的特性。
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