[发明专利]传感器及使用该传感器的干扰测定方法有效

专利信息
申请号: 200680036422.8 申请日: 2006-09-29
公开(公告)号: CN101278177A 公开(公告)日: 2008-10-01
发明(设计)人: 山本义典;坂部至;屉冈英资;丹治久 申请(专利权)人: 住友电气工业株式会社
主分类号: G01K11/12 分类号: G01K11/12;G01B11/16;G01D5/353;G01M11/00
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及具有下述构造的传感器等,该构造用于实现在包含低温区域的较宽温度范围内进行准确的温度测定,同时分别且准确地判别被测定物中产生的温度变化及应变。该传感器具备:激光光源;传感器部,其包含多条传输来自激光光源的激光的波导通路;检测部;以及解析部。检测部检测从传感器部得到的多个布里渊频谱。解析部根据对检测出的各个布里渊频谱进行表征的参数的变动,确定传感器部的温度及在该传感器部中产生的应变中的至少任一个的测定值。特别是,传感器部具有用于使布里渊频谱相对于干扰的变化在多条波导通路之间不同的结构。这样,通过同时监视在多条波导通路之间表现出不同变化的布里渊频谱,不仅使包含低温区域的较宽温度范围中的温度测定,而且使应变及温度的区分也可以准确地进行。
搜索关键词: 传感器 使用 干扰 测定 方法
【主权项】:
1.一种传感器,其具有:激光光源,其射出规定波长的激光;传感器部,其至少包含第1及第2波导通路,它们分别传输来自上述激光光源的激光的一部分,该传感器部具有下述构造,该构造用于使由该第1及第2波导通路输出的布里渊散射光的频谱,在受到干扰时表示出各不相同的变化;检测部,其检测对应于上述激光的输入而分别从上述第1及第2波导通路输出的布里渊散射光的频谱;以及解析部,其根据对由上述检测部检测出的上述第1及第2波导通路各自的布里渊散射光的频谱进行表征的参数的变动,确定上述传感器部中的温度及因受到干扰而在该传感器部中产生的应变的至少任一个的测定值。
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