[发明专利]操纵和/或检测粒子的方法和装置有效

专利信息
申请号: 200680034504.9 申请日: 2006-07-19
公开(公告)号: CN101267889A 公开(公告)日: 2008-09-17
发明(设计)人: 詹内伊·梅多罗;尼科洛·马纳雷西 申请(专利权)人: 硅生物系统股份公司
主分类号: B03C5/02 分类号: B03C5/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 朱进桂
地址: 意大利*** 国省代码: 意大利;IT
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摘要: 通过时变力场操纵和/或控制粒子位置的方法和装置。该力场可为介电电泳(正的或负的)、电泳、电流体或介质上电润湿,其特征在于粒子的一系列稳定平衡点。
搜索关键词: 操纵 检测 粒子 方法 装置
【主权项】:
1.一种通过电极组(BLOCK_i,j)的至少二维阵列来操纵粒子(BEAD)的方法,包括步骤:i.产生力场的第一配置(F_i),其呈现所述粒子(BEAD)的至少一个第一稳定平衡点(CAGE_i,j)和至少一个第二稳定平衡点(CAGE_i,j+1),所述点分别位于所述阵列的第一组(BLOCK_i,j)和紧邻第一组的第二组(BLOCK_i,j+1),且至少一个粒子(BEAD)被俘获在所述第一稳定平衡点(CAGE_i,j);ii.产生力场的至少一个第二配置(F_ii),从而粒子(BEAD)被推入所述至少一个第二稳定平衡点CAGE_i,j+1)的吸引域;以及iii.再次产生力场的所述第一配置(F_i),从而所述粒子(BEAD)被吸引向第二稳定平衡点(CAGE_i,j+1);所述方法的特征在于,力场的所述第一配置(F_i)和所述第二配置(F_ii)通过施加到阵列第一组(BLOCK_i,j)的电极的第一电压(Vrow_i[p]和Vcol_j[q])和施加到阵列第二组(BLOCK_i,j+1)的电极的第二电压(Vrow_i[p]和Vcol_j+1[q])的至少两个不同配置产生。
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