[发明专利]层叠型正特性热敏电阻有效

专利信息
申请号: 200680034323.6 申请日: 2006-09-20
公开(公告)号: CN101268528A 公开(公告)日: 2008-09-17
发明(设计)人: 三原贤二良;岸本敦司;新见秀明 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所
主分类号: H01C7/02 分类号: H01C7/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李香兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明的层叠型正特性热敏电阻的半导体陶瓷层,以BaTiO3系陶瓷材料为主成分,Ba位点和Ti位点之比为0.998~1.006且包括从La、Ce、Pr、Nd以及Pm中选择的至少一种元素作为半导体化剂。该层叠型正特性热敏电阻的内部电极层的厚度d以及半导体陶瓷层的厚度D满足d≥0.6μm且d/D<0.2。从而,即使在实际测量烧结密度降低到理论烧结密度的65~95%这样的半导体陶瓷层的情况下,不采用热处理等烦杂的方法,也能实现室温电阻值随时间的变化率小的层叠型正特性热敏电阻。在半导体体化剂的含有量相对Ti100摩尔部为0.1~0.5摩尔部时,能进行1150℃的低温烧制,能够得到低的室温电阻值和足够大的电阻变化率。
搜索关键词: 层叠 特性 热敏电阻
【主权项】:
1、一种层叠型正特性热敏电阻,具有:实际测量烧结密度为理论烧结密度的65%以上90%以下的半导体陶瓷层与内部电极层交替地层叠并烧结而形成的陶瓷原材;和按照与上述内部电极层电连接的方式形成在上述陶瓷原材的两端部的外部电极,上述半导体陶瓷层,以BaTiO3系陶瓷材料为主成分,同时Ba位点与Ti位点之比为0.998≤Ba位点/Ti位点≤1.006,且包含从La、Ce、Pr、Nd以及Pm中选择的至少一种元素作为半导体化剂,上述内部电极层的厚度d以及上述半导体陶瓷层的厚度D满足d≥0.6μm且d/D<0.2。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社村田制作所,未经株式会社村田制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200680034323.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top