[发明专利]微粒成分测量方法以及微粒成分测量装置无效
| 申请号： | 200680034289.2 | 申请日： | 2006-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN101268357A | 公开（公告）日： | 2008-09-17 |
| 发明（设计）人： | 藤井隆;后藤直彦;三木惠;名雪琢弥;根本孝七;田中伸幸 | 申请（专利权）人： | 财团法人电力中央研究所 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 范征 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明通过将输出自激光装置16的超短脉冲激光15聚光，向纳米粒或微米粒照射而产生等离子体，更好是利用在超短脉冲激光15中生成的光丝14产生等离子体，基于该等离子体的发光光谱测量微粒成分。 | ||
| 搜索关键词： | 微粒 成分 测量方法 以及 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.微粒成分测量方法，其特征在于：通过将超短脉冲激光向微粒聚光而产生等离子体，基于所述等离子体的发光光谱测量所述微粒的成分。
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