[发明专利]用于以半导体材料薄层覆盖的碳带以及淀积这样的薄层的方法无效
| 申请号: | 200680021732.2 | 申请日: | 2006-06-07 |
| 公开(公告)号: | CN101199061A | 公开(公告)日: | 2008-06-11 |
| 发明(设计)人: | C·贝洛特 | 申请(专利权)人: | 索拉尔福斯公司 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;C23C2/00 |
| 代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 杨晓光;李峥 |
| 地址: | 法国布*** | 国省代码: | 法国;FR |
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| 摘要: | 本发明涉及一种将被半导体材料制造的薄层(72或74)所覆盖的碳带(54),以及涉及一种用于将所述类型的层淀积到由碳带构成的基底上的方法。基本上,当使所述带在熔化的半导体材料的熔体(12)中垂直并向上通过时,半导体材料层(72、74)将覆盖所述碳带的至少两侧(58、60)中的一侧。根据本发明,突出所述碳带的所述两侧中的至少一侧的两个边缘以形成阻流板(68、70、98、100)。 | ||
| 搜索关键词: | 用于 半导体材料 薄层 覆盖 以及 这样 方法 | ||
【主权项】:
1.一种在碳带(54)的两个面(58、60)中的至少一个面上淀积半导体材料层(72、74)的方法,所述带具有两个边缘(34、36),在所述方法中逐渐朝上(18)基本上垂直地拉拔所述带纵向通过熔化的半导体材料的熔体(12)的水平平衡表面,当拉拔所述碳带时,通过润湿所述面淀积所述熔化的半导体材料的熔体(12),所述方法的特征在于其在于改变所述带的所述边缘的形状(62-64-66、90-92-94)以便增加在所述带的所述边缘上淀积的所述半导体材料层的厚度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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