[发明专利]用于光学分析金属熔池的系统无效
申请号: | 200680005210.3 | 申请日: | 2006-02-08 |
公开(公告)号: | CN101535507A | 公开(公告)日: | 2009-09-16 |
发明(设计)人: | L·E·卡特斯 | 申请(专利权)人: | 普莱克斯技术有限公司 |
主分类号: | C21C7/00 | 分类号: | C21C7/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 段晓玲;韦欣华 |
地址: | 美国康*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 用于光学分析金属熔池(4)的系统,其中将高速氩气流(3)从喷枪(1)传送到熔池,并用外焰(2)使气流保持连贯,以提供通过该氩气流的清晰的观察路径,从而纵向通过氩气流从远处或间隔开的观察点(9)观察该金属熔池。 | ||
搜索关键词: | 用于 光学 分析 金属 熔池 系统 | ||
【主权项】:
1、光学分析金属熔池的方法,其包括:(A)通过使氩气流穿过喷枪并且用外焰包围该氩气流,形成连贯的氩气流;(B)将该连贯的氩气流通入金属熔池;(C)纵向穿过连贯的氩气流进行观察,以观测金属熔池并从中获取光学数据;和(D)将光学数据提交至分析仪。
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