[发明专利]用于光学分析金属熔池的系统无效

专利信息
申请号: 200680005210.3 申请日: 2006-02-08
公开(公告)号: CN101535507A 公开(公告)日: 2009-09-16
发明(设计)人: L·E·卡特斯 申请(专利权)人: 普莱克斯技术有限公司
主分类号: C21C7/00 分类号: C21C7/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 段晓玲;韦欣华
地址: 美国康*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 用于光学分析金属熔池(4)的系统,其中将高速氩气流(3)从喷枪(1)传送到熔池,并用外焰(2)使气流保持连贯,以提供通过该氩气流的清晰的观察路径,从而纵向通过氩气流从远处或间隔开的观察点(9)观察该金属熔池。
搜索关键词: 用于 光学 分析 金属 熔池 系统
【主权项】:
1、光学分析金属熔池的方法,其包括:(A)通过使氩气流穿过喷枪并且用外焰包围该氩气流,形成连贯的氩气流;(B)将该连贯的氩气流通入金属熔池;(C)纵向穿过连贯的氩气流进行观察,以观测金属熔池并从中获取光学数据;和(D)将光学数据提交至分析仪。
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