[实用新型]IC检测座的改进结构无效

专利信息
申请号: 200620002220.9 申请日: 2006-02-10
公开(公告)号: CN2890921Y 公开(公告)日: 2007-04-18
发明(设计)人: 许守淳 申请(专利权)人: 许守淳
主分类号: G01R1/02 分类号: G01R1/02;G01R31/28
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 代理人: 孙皓晨
地址: 中国*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型是一种IC检测座的改进结构,其主要包括:一框体及一端子座;其中该框体是框围在该端子座的外周缘,且该端子座设有一凹陷部,以供一集成电路置放,又该凹陷部相对于该集成电路导电针脚的数组排序位置处植设有复数根接触端子;而由于该框体与该端子座具有拆装分离的特性,以使遇有不同的检测机板、不同数组排序或不同外观尺寸的集成电路时,即可直接更换框体或端子座,使本实用新型除能检测多种不同的集成电路外,亦可配置在不同的检测机板。
搜索关键词: ic 检测 改进 结构
【主权项】:
1.一种IC检测座的改进结构,其特征在于包括:一框体,可与一检测机板形成联结;及一端子座,其外缘面是可与该框体形成连接固定,又该端子座设有一凹陷部,以供一集成电路置放,而该凹陷部相对于该集成电路导电针脚的数组排序位置处植设有复数根接触端子。
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