[发明专利]库测试电路以及库测试方法无效
| 申请号： | 200610172776.7 | 申请日： | 2006-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN1991850A | 公开（公告）日： | 2007-07-04 |
| 发明（设计）人： | 尼廷·萨尔古南 | 申请（专利权）人： | 东部电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郑小军 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开一种库测试电路以及库测试方法，该库测试电路用于验证多个标准单元库的逻辑单元的功能，其包括：多个标准单元库的逻辑单元，每个逻辑单元具有预定数目个输入矢量合成，该核心模块输出对标准单元库的测试结果信号；第一开关组，用于将第一输入信号输出到该核心模块，从而选择对应于各个逻辑单元的单元标识符；以及第二开关组，用于将第二输入信号输出到该核心模块，从而选择与每个逻辑单元的输入矢量合成对应的图形标识符。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 以及 方法 | ||
【主权项】：
1、一种库测试电路，其用于验证多个标准单元库的逻辑单元的功能，该库测试电路包括：核心模块，其包括多个标准单元库的逻辑单元，每个逻辑单元具有预定数目个输入矢量合成，该核心模块输出对标准单元库的测试结果；第一开关组，用于将第一输入信号输出到该核心模块，从而选择对应于各个逻辑单元的单元标识符；以及第二开关组，用于将第二输入信号输出到该核心模块，从而选择与每个逻辑单元的输入矢量合成对应的图形标识符。
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