[发明专利]外部存储性能测试方法和装置无效
| 申请号： | 200610168017.3 | 申请日： | 2006-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN1975935A | 公开（公告）日： | 2007-06-06 |
| 发明（设计）人： | 高占东 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/48 | 分类号： | G11C29/48 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人： | 宋志强;麻海明 |
| 地址： | 100083北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种外部存储性能测试方法，包括：确定进行存储性能测试所需的文件碎片的大小，每隔一个文件碎片所占用的存储空间构造一个不占用外部存储器存储空间的虚拟文件，在文件分配表FAT中记录各虚拟文件的簇索引信息；移动设备确定要向外部存储器写入文件，根据各虚拟文件的簇索引信息确定未被占用的簇，将该文件数据写入未被占用的簇中，形成文件碎片，根据该文件碎片进行存储性能测试。本发明同时公开了一种外部存储性能测试装置，包括：文件碎片大小确定模块、虚拟文件构造模块和文件碎片构造模块。本发明避免了在构造文件碎片时，向外部存储器写入大量文件的过程，大大降低了测试FAT系统或外部存储器的性能所耗费的时长。 | ||
| 搜索关键词： | 外部 存储 性能 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种外部存储性能测试方法，其特征在于，包括：确定进行存储性能测试所需的文件碎片的大小，每隔一个文件碎片所占用的存储空间构造一个不占用外部存储器存储空间的虚拟文件，在文件分配表FAT中记录各虚拟文件的簇索引信息；确定要向外部存储器写入测试文件，根据各虚拟文件的簇索引信息确定未被占用的簇，将该测试文件数据写入未被占用的簇中，形成文件碎片，根据该文件碎片进行存储性能测试。
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