[发明专利]测试设备无效
| 申请号： | 200610167827.7 | 申请日： | 2006-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN101201297A | 公开（公告）日： | 2008-06-18 |
| 发明（设计）人： | 陈彦志;戴宝华 | 申请（专利权）人： | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M19/00 | 分类号： | G01M19/00 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿宁;张华辉 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明是有关于一种测试设备是应用于测试一电子装置，电子装置具有一第一本体、一第二本体及一枢轴，第一本体及第二本体与枢轴枢接。测试设备包含一底座、一框架、一施力机构以及一控制装置；底座是承载并固定第一本体，框架是枢设于底座；施力机构是设置于框架，以固定第二本体，并施加一正向力至枢轴；控制装置是与框架电性连接，控制框架转动，带动第二本体以枢轴相对于第一本体转动。本发明能够正确地模拟实际使用状态，了解枢轴因长期受正向力作用而损坏的情形，藉以改良枢轴的结构设计，提高枢轴的可靠度与使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 设备 | ||
【主权项】：
1.一种测试设备，是应用于测试一电子装置，其特征在于该电子装置具有一第一本体、一第二本体及一枢轴，该第一本体及该第二本体与该枢轴枢接，该测试设备包含：一底座，是承载并固定该第一本体；一框架，是枢设于该底座；一施力机构，是设置于该框架，以固定该第二本体，并施加一正向力至该枢轴；以及一控制装置，是与该框架电性连接，控制该框架转动，带动该第二本体以该枢轴相对于该第一本体转动。
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