[发明专利]校正计算机断层造影中因过度曝光引起的图像伪影的方法有效
申请号: | 200610166999.2 | 申请日: | 2006-12-13 |
公开(公告)号: | CN1983331A | 公开(公告)日: | 2007-06-20 |
发明(设计)人: | 托马斯·布伦纳;伯恩德·施赖伯 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 邵亚丽;李晓舒 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及一种用于从多个二维投影图像中再现三维CT图像的方法,其中,每一幅二维投影图像在任意选择的位置上被一条实际上垂直的图像线分开,对该投影图像进行自动电子分析以检测该图像线的左侧或右侧或两侧是否存在缺口。在该图像线的检测到缺口的每一侧,标识出该缺口结束处的水平坐标。外推出在相对于该图像线所在的一侧的上述x坐标一侧的数据(灰度值),然后将校正后的二维投影用于再现若不采用校正则会出现盖帽伪影的三维图像,而由于二维投影中的校正使得该盖帽伪影被避免或实际上降至最少。 | ||
搜索关键词: | 校正 计算机 断层 造影 过度 曝光 引起 图像 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于在计算机断层造影中校正由于检测器曝光过度而产生的图像伪影的方法,包括步骤:在多个由于用于产生二维投影图像的辐射检测器曝光过度而产生缺口的计算机断层造影二维投影图像的每一幅图像中,自动电子地确定作为用于产生该二维投影图像的x射线管电压、x射线管电流和脉冲宽度的函数的最大灰度值;在每一幅所述二维投影图像中选择一条垂直的图像线并自动电子地确定在该二维投影图像中的所述图像线的左侧或右侧是否存在缺口;对于存在缺口的图像线的任何一侧,参照该图像线确定该缺口结束处的水平坐标;对于每一幅所述二维投影图像中存在缺口的那一侧,根据最大强度和该二维投影图像中对象的尺寸用外推公式自动电子地外推出在缺口结束处的水平坐标和该二维图像中最接近于该缺口结束处水平坐标的边缘之间的灰度值,以获得校正的二维投影图像,其中缺口得到了实质性的补偿;从多个校正的二维投影图像中再现出该对象的三维图像,所述三维图像实质上没有由于过度曝光而产生的盖帽伪影。
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