[发明专利]半导体装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200610166709.4 申请日: 2006-12-08
公开(公告)号: CN1983612A 公开(公告)日: 2007-06-20
发明(设计)人: 野间崇;冈田和央;石部真三;北川胜彦;森田佑一;大塚茂树;山田纮士;大久保登;篠木裕之;沖川满 申请(专利权)人: 三洋电机株式会社
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L23/485;H01L21/50;H01L21/60
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种半导体装置,在半导体基板(2)的表面上形成有光接收元件(1)(例如CCD、红外线传感器、CMOS传感器、照度传感器等光接收元件)。半导体基板(2)的背面配置多个球状的导电端子(11)。各个导电端子(11)经由配线层(9)而与半导体基板(2)的表面的焊盘电极(4)电气连接。在此,配线层(9)和导电端子(11)在所述半导体基板(2)的背面上、在垂直方向上看时除与光接收元件(1)的形成区域重叠的区域以外的区域上,在与所述光接收元件(1)的形成区域重叠的区域上不配置配线层(9)、导电端子(11)。从而能够解决输出图像上映入形成在半导体基板的背面上的配线图案这样的问题。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体装置,其特征在于,具有:半导体基板,其表面形成有光接收元件;透光性基板,其在所述光接收元件的上方与所述半导体基板粘合;配线层,其形成在所述半导体基板的背面上;保护层,其覆盖所述配线层,其中,所述配线层形成在所述半导体基板的背面上、除与所述光接收元件的形成区域重叠的区域以外的区域上。
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