[发明专利]集成电路测试器无效
| 申请号： | 200610163190.4 | 申请日： | 2006-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN1975450A | 公开（公告）日： | 2007-06-06 |
| 发明（设计）人： | 永沼英树 | 申请（专利权）人： | 横河电机株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/00;G09G3/00;G09G3/36;G02F1/13;H03M1/12 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 蒲迈文;黄小临 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的目的在于实现一种集成电路测试器，用于不须采用偏移减算器，即可进行高分辨率、高精度的测定。本发明对于将受测试对象的输出以A/D转换器进行测定的集成电路测试器加以改良。本装置的特征为具备电压产生单元，以根据受测试对象的输出而将上限基准电压、下限基准电压变动式地供应到A/D转换器。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路测试器，将受测试对象的输出以A/D转换器进行测定；其特征为具备：电压产生单元，用以根据该受测试对象的输出，将上限基准电压、下限基准电压可变动地供应至该A/D转换器。
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