[发明专利]成像系统,成像器件分析系统,成像器件分析方法,和光束发射方法有效

专利信息
申请号: 200610142874.6 申请日: 2006-10-27
公开(公告)号: CN1955830A 公开(公告)日: 2007-05-02
发明(设计)人: A·古普塔;M·龙;J·M·迪卡罗 申请(专利权)人: 惠普开发有限公司
主分类号: G03B11/04 分类号: G03B11/04;H04N5/225;H04N5/217;G03B43/00;G01M11/02;G01M19/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王小衡;陈景峻
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 描述了成像系统(100)、成像器件分析系统(112)、成像器件分析方法和光束发射方法。依照一个方面,成像器件分析方法包括接收含有多个波长光的初始光(124)、过滤初始光(124)的一些波长,从而形成含有不同波长光的多个光束(116)、在过滤之后,将不同波长光的光束(116)光学地传递到成像器件(114)、使用成像器件(114)接收光束(116)、并在接收之后使用光束(116)分析成像器件114。
搜索关键词: 成像 系统 器件 分析 方法 光束 发射
【主权项】:
1.一种成像器件分析系统,包括:光源(122),其配置成发射包含多个波长光的初始光(124);滤波器组件(130),其与光源(122)光学耦合并配置成接收初始光(124),其中滤波器组件(130)包括多个光学滤波器(142),该多个光学滤波器被分别配置成从初始光(124)过滤一些波长的光并透过包含至少一个波长光的各个光束(116),其中由各个光学滤波器(142)透过的光束(116)的光的波长不同;和发射接口(133),其与滤波器组件(130)光学耦合并配置成发射光束(116)以分析成像器件(114),该成像器件配置成响应于接收到的光而俘获图像。
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