[发明专利]低电压检测电路有效
| 申请号： | 200610142425.1 | 申请日： | 2006-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN1956334A | 公开（公告）日： | 2007-05-02 |
| 发明（设计）人： | 菅野崇志 | 申请（专利权）人： | 三洋电机株式会社 |
| 主分类号： | H03K17/22 | 分类号： | H03K17/22;G06F1/30;G01R19/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 李香兰 |
| 地址： | 日本国大阪府守*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 低电压检测电路由基准电压发生电路(10)、分压电路(20)、作为比较电路的比较器(30)、串联在分压电路(20)上的第二恒流晶体管(M2)构成。辅助电流晶体管(Ma)与第一恒流晶体管(M1)同样地串联在负载元件(40)上。辅助电流晶体管(Ma)由第二恒流晶体管(M2)的漏极电压A所控制。此外，第二恒流晶体管(M2)的栅极和第一恒流晶体管(M1)的栅极相互连接，构成电流反射镜。第二恒流晶体管(M2)的尺寸调整为能产生流向第一恒流晶体管(M1)的第一恒定电流(I1)的数倍的第二恒定电流(I2)。从而提供电源接通时和通常动作时中可靠性高的准确的低电压检测电路。 | ||
| 搜索关键词： | 电压 检测 电路 | ||
【主权项】：
1.一种低电压检测电路，包括：第一恒流晶体管，产生第一恒定电流；负载元件，产生与所述第一恒定电流对应的基准电压；第二恒流晶体管，产生与所述第一恒定电流成比例的第二恒定电流；分压电路，串联连接在所述第二恒流晶体管上，将电源电压进行分压；辅助电流晶体管，由所述第二恒流晶体管和所述分压电路之间的连接点的电压所控制，辅助地使电流流向所述负载元件；和比较器，对所述基准电压和由所述分压电路所分压的电源电压进行比较。
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