[发明专利]光学半导体器件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200610140322.1 申请日: 2006-11-27
公开(公告)号: CN1976013A 公开(公告)日: 2007-06-06
发明(设计)人: 石田智彦 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: H01L23/28 分类号: H01L23/28;H01L23/29;H01L23/31;H01L21/56
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 雒运朴;徐谦
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在具有包含受光部(21)的半导体元件和电极焊盘(22)的裸片(11)的受光部(21)上,形成包覆部件后,将该裸片(11)搭载于具有电极端子(14)的基板(12)的芯片基座(13)上。通过导线(15)对电极焊盘(22)和电极端子(14)进行电连接后,在裸片(11)的周边及上表面涂敷树脂(16)。然后,使树脂(16)固化,并去除包覆部件。由此,制造出使受光部(21)露出、并且金属部件等被树脂(16)密封的光学半导体器件(10)。
搜索关键词: 光学 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种光学半导体器件,其特征在于,具有:基板,形成有电极端子;裸片,搭载于上述基板上,具有:电极焊盘、具有受光部或发光部的半导体元件;以及导电部件,使上述电极端子与上述电极焊盘电连接,还具有不透光性的树脂,该不透光性的树脂形成为至少覆盖上述导电部件和上述电极焊盘,且不覆盖上述裸片的上述受光部或发光部。
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