[发明专利]基板检查装置无效
| 申请号: | 200610132214.X | 申请日: | 2006-10-12 |
| 公开(公告)号: | CN1948955A | 公开(公告)日: | 2007-04-18 |
| 发明(设计)人: | 松本胜;永见理 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
| 主分类号: | G01N21/89 | 分类号: | G01N21/89;G01B11/30;G01B21/30;G01N21/84;G01N21/95 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 黄纶伟 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 本发明提供一种基板检查装置(1),在基座主体(3)上铺设有使基板(W)气动浮起的浮起工作台(4)。另外,在从基座主体(3)的一端部到另一端部之间依次设有自动宏观检查部(21)和微观检查部(22)。自动宏观检查部(21)构成为具有向基板(W)照射线状照明光的照明部(24),在使照明光的反射光通过反射部(25)折返后入射到摄像部(26)。 | ||
| 搜索关键词: | 检查 装置 | ||
【主权项】:
1.一种基板检查装置,其特征在于,该基板检查装置具有:工作台,其搬运平板显示器用基板;搬运单元,其保持所述基板的一边并沿所述工作台的搬运方向搬运;线照明用光源,其配置在所述工作台的上游侧,射出在与所述搬运方向交叉的方向上延伸的线状照明光;宏观检查部,其具有拍摄被所述线状照明光照射的观察区域的摄像部;微观检查部,其沿所述工作台的搬运方向配置,具有沿与所述搬运方向正交的方向移动的物镜;缺陷坐标运算部,其计算由所述微观检查部检测的缺陷的坐标;控制部,其根据所述缺陷坐标运算部的各个缺陷的坐标数据,使所述基板移动到所述缺陷的X坐标与所述物镜的扫描线一致的位置上,在使所述基板停止的状态下,使所述微观检查部的所述物镜移动到与所述缺陷的Y坐标一致的位置上;以及精密浮起块,其配置在与所述物镜的扫描线对应的检查区域中,使所述基板高精度地浮起,在使所述基板浮起的状态下,利用所述微观检查部对所述基板进行微观检查。
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