[发明专利]X射线衰减校正方法、CT装置、图像产生装置及方法无效
| 申请号： | 200610130919.8 | 申请日： | 2006-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN101040781A | 公开（公告）日： | 2007-09-26 |
| 发明（设计）人： | 贯井正健 | 申请（专利权）人： | GE医疗系统环球技术有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G01N23/00;G06T5/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 李亚非;魏军 |
| 地址： | 美国威*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于校正在对象的X射线吸收率发生变化的边界处X射线束的衰减的X射线衰减校正方法、图像产生装置、X射线CT装置以及图像产生方法。边界信息包括X射线吸收率发生变化的边界位置和从对象的投影信息中提取的变化的幅度，然后边界信息被用来把散射X射线量乘以与在边界位置处变化的幅度对应的量以校正在边界位置处X射线的衰减。在边界位置处X射线的衰减可以连同投影信息的散射X射线的校正一起被校正，从而允许减轻在X射线断层扫描图像中显现的伪影。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 衰减 校正 方法 ct 装置 图像 产生 | ||
【主权项】：
1、一种X射线衰减校正方法，包括以下步骤：通过使用对象的X射线投影信息或者由所述投影信息的图像重建所产生的X射线断层扫描图像信息来提取边界信息(S301)，所述边界信息包含X射线吸收率发生变化的边界位置的边界位置信息和指示所述变化的幅度的幅度信息；以及通过使用所述边界信息来校正在所述投影信息或所述X射线断层扫描图像信息中包含的所述边界位置的X射线衰减(S303)。
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