[发明专利]半导体存储装置无效

专利信息
申请号: 200610125605.9 申请日: 2006-08-24
公开(公告)号: CN1941382A 公开(公告)日: 2007-04-04
发明(设计)人: 须藤直昭;金森宏治;真田和彦 申请(专利权)人: 恩益禧电子股份有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李贵亮
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种半导体存储装置,用于实现产品成本的降低。在半导体存储装置中具有:存储单元部(属于Wni-1、W0i~Wni的单元)和旁路部(属于BW0i、BW0i-1、BW1i、BW1i-1的单元)。存储单元部具有选择栅极(3a)、浮置栅极(6)、第1扩散区域(7a)、第2扩散区域(7b)和第1控制栅极(11a)。旁路部具有:选择栅极(3a)、第1扩散区域(7a)和第2扩散区域(7b),并具有第2控制栅极(11b)。第2控制栅极(11b)控制选择栅极(3a)和第1扩散区域(7a)之间,或者选择栅极(3a)和第2扩散区域(7b)之间区域的沟道。旁路部的沟道成为读出存储单元部的单元时的电流供给路径。
搜索关键词: 半导体 存储 装置
【主权项】:
1、一种半导体存储装置,具有存储单元部和旁路部,所述存储单元部具有:选择栅极,其配设在基板上的第1区域;第1存储节点和第2存储节点,其配设在与所述第1区域邻接的第2区域;第1扩散区域和第2扩散区域,其与所述第2区域邻接,并且设置在所述基板表面上的第3区域;和第1控制栅极,其配设在所述第1存储节点和所述第2存储节点上,并且,控制所述第1存储节点或者所述第2存储节点下的沟道,所述旁路部具有第2控制栅,其在与所述存储单元部不同的区域,具有所述选择栅极、所述第1扩散区域和所述第2扩散区域,并控制所述选择栅极和所述第1扩散区域之间,或者所述选择栅极和所述第2扩散区域之间区域的沟道,所述选择栅极和所述第1扩散区域之间,或者所述选择栅极和所述第2扩散区域之间区域的沟道,成为读出所述第1存储节点或者所述第2存储节点时的电流供给路径。
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