[发明专利]垂直型自对准悬浮漏极MOS三极管及制造方法无效

专利信息
申请号: 200610124138.8 申请日: 2006-12-08
公开(公告)号: CN101017823A 公开(公告)日: 2007-08-15
发明(设计)人: 吴纬国 申请(专利权)人: 广州南科集成电子有限公司
主分类号: H01L27/088 分类号: H01L27/088;H01L29/78;H01L29/41;H01L21/8234;H01L21/336;H01L21/28
代理公司: 广州市红荔专利代理有限公司 代理人: 李彦孚
地址: 510663广东省广*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种导通电阻小、导电性能好、栅极电容小、交流反应快的垂直型自对准悬浮漏极MOS三极管及制造方法。该三极管包括硅衬底(1)、漏极金属(2)、源极金属(3)、栅极金属(4)、外延层(8)、氧化层(9)、阱区(51)、源区(52)、栅氧化层(60、61)、多晶硅栅极(7),氧化层(9)内有通孔(90),源极金属(3)、栅极金属(4)填充通孔(90)并分别与阱区(51)、源区(52)及多晶硅栅极(7)相连接,位于栅氧化层(61)上的每条多晶硅栅极(7)中间断开分成两部分(71、72),两部分多晶硅栅极(71、72)之间相应的下方阱区(51)之间有悬浮漏区(53)。该方法包括形成栅氧化层、多晶硅栅极、悬浮漏区、阱区、源区、氧化层、金属层的步骤。
搜索关键词: 垂直 对准 悬浮 mos 三极管 制造 方法
【主权项】:
1、一种垂直型自对准悬浮漏极MOS三极管,包括硅衬底(1),位于所述硅衬底(1)背面的漏极金属(2)、位于所述硅衬底(1)正面的外延层(8),形成于所述外延层(8)正面的氧化层(9),位于所述氧化层(9)正面的源极金属(3)、栅极金属(4),植入到所述外延层(8)中的阱区(51)、源区(52),生长于所述外延层(8)正面的栅氧化层I(60)、栅氧化层II(61),位于所述栅氧化层I(60)、所述栅氧化层II(61)上的多晶硅栅极(7),所述氧化层(9)内有若干个接触孔(90),所述源极金属(3)、所述栅极金属(4)填充若干个所述接触孔(90)并分别与所述阱区(51)、所述源区(52)及所述多晶硅栅极(7)相连接,其特征在于:位于所述栅氧化层II(61)上的每条所述多晶硅栅极(7)中间断开分成两部分(71、72),两部分所述多晶硅栅极(71、72)之间相应的下方所述阱区(51)之间有悬浮漏区(53)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州南科集成电子有限公司,未经广州南科集成电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610124138.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top