[发明专利]激光波长的平面波导检测方法无效
| 申请号： | 200610116623.0 | 申请日： | 2006-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN1932458A | 公开（公告）日： | 2007-03-21 |
| 发明（设计）人： | 冯耀军;曹庄琪;沈启舜;陈麟 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01J9/00 | 分类号： | G01J9/00 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 | 代理人： | 王锡麟;张宗明 |
| 地址： | 200240*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种激光波长的光波导测量方法，属于精密测量技术领域。本发明将激光入射到棱镜上，并到达棱镜的底面，当满足耦合条件时，光进入由棱镜、沉积在棱镜上的金属膜、空气隙、沉积在光学玻璃上的金属薄膜构成的泄漏型双面金属包覆波导中，耦合效率对光波长的变化极为敏感，从棱镜底面反射的光强度对波长的变化也极为敏感。通过检测反射光强度的变化量，来检测激光器输出波长的变化。与现有技术相比，本发明可以广泛地应用于密集波分复用系统中的波长分辨、激光器输出波长的漂移抑制。本发明可以实现高分辨率、快速的实时检测，并且检测方法也十分简单。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 波长 平面 波导 检测 方法 | ||
【主权项】：
1、一种激光波长的平面波导检测方法，其特征在于，将激光入射到棱镜上，当满足耦合条件时，光进入由棱镜、沉积在棱镜上的金属膜、空气隙、沉积在光学玻璃上的金属薄膜构成的泄漏型双面金属包覆波导中，耦合效率对光波长的变化极为敏感，从棱镜底面反射的光对波长的变化也极为敏感，通过检测反射光强度的变化量，来检测激光器输出波长的变化。
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