[发明专利]中心对称材料微纳结构器件倍频转换效率测试装置

摘要

中心对称材料微纳结构器件倍频转换效率测试装置，由激光器、准直扩束系统、偏振片、入射光栏、对准显微镜、承品台、水平角旋转台、多维调整台、倍频光滤光片、遮挡罩、激光功率计和大底台组成，激光器射出的激光通过准直扩束系统、偏振片和入射光栏，由对准显微镜观察经水平角旋转台和多维调整台调整对准射入被测样品，经被测样品倍频后的倍频光，被激光功率计接收并测量显示出倍频光的光强值，再与未放置被测样品和滤光片时检测的光强值相比，可得到倍频转换效率。被测样品的位置由多维调整台和水平角旋转台迅速调整，调整方便，测量精度高，易于应用推广。

主权项

1、中心对称材料微纳结构器件倍频转换效率测试装置，其特征在于包括：激光器(1)、准直扩束系统(2)、偏振片(3)、入射光栏(4)、对准显微镜(5)、承品台(6)、被测样品(7)、水平角旋转台(8)、多维调整台(9)、倍频滤光片(10)、遮挡罩(11)、激光功率计探头(12)、激光功率计(14)和大底台(15)，激光器(1)、准直扩束系统(2)、偏振片(3)、入射光栏(4)、依次放置并安放于大底台(15)上，对准显微镜(5)竖直放置在被测样品(7)光线入口的上方，用于观察激光射入被测样品入口的对准情况；多维调整台(9)、激光功率计探头(12)和激光功率计(14)依次安放于大底台(15)上，固定被测样品(7)的样品承品台(6)安置在水平角旋转台(8)上，水平角旋转台(8)安置在多维调整台(9)上，倍频滤光片(10)位于激光功率计探头(12)的前端，在激光器(1)和激光功率计(14)之间罩有遮挡罩(11)，以防止外来杂光对光强信号测量的影响；激光器(1)射出的激光先通过准直扩束系统(2)准直扩束，然后通过偏振片(3)和入射光栏(4)，再通过竖直放置的对准显微镜(5)观察，由水平角旋转台(8)和多维调整台(9)的调整对准，由入射光栏(4)发出的光束射入被测样品(7)，经过被测样品(7)倍频后的倍频光(705)通过倍频滤光片(10)滤光射入激光功率计探头(12)，被探头接收后转换为电信号，送入激光功率计(14)，由激光功率计(14)测量显示出倍频激光的光强大小，再与未放置被测样品和滤光片时检测的光强值相比，可得到倍频转换效率。