[发明专利]一种适合于白天工作的高分辨力成像自适应光学望远镜无效
| 申请号： | 200610112434.6 | 申请日： | 2006-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN1908722A | 公开（公告）日： | 2007-02-07 |
| 发明（设计）人： | 饶长辉;吴碧琳 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G02B23/00 | 分类号： | G02B23/00;H01L27/148 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 | 代理人： | 关玲;成金玉 |
| 地址： | 610209*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 一种适合于白天工作的高分辨力成像自适应光学望远镜，包括望远镜系统、精密跟踪系统、自适应光学系统以及成像系统，精密跟踪系统中精密跟踪探测系统位于库德房中，从而使得精密跟踪系统、高精跟踪回路以及高阶误差校正回路共光轴；同时精密跟踪系统的核心探测器件为EMCCD，由于EMCCD噪声小(读出噪声＜1e－)量子效率高，可提高系统探测能力；利用分光镜分光，使哈特曼传感器工作于近红外波段，减弱了白天强背景光的影响，提高了高精跟踪回路对残余整体倾斜误差的校正能力以及高阶误差校正回路对高阶误差的校正能力；成像系统的探测器为近红外探测器，克服了强背景光和白天大气湍流相对较强的影响，提高了成像分辨力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适合于 白天 工作 分辨力 成像 自适应 光学 望远镜 | ||
【主权项】：
1、适合于白天工作的高分辨力成像自适应光学望远镜，由望远镜系统(24)、精密跟踪系统(25)、自适应光学系统(27)及成像系统(19)组成，其特征在于：所述的精密跟踪系统(25)位于库德房中。
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