[发明专利]闪存器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200610108214.6 申请日: 2006-08-01
公开(公告)号: CN1992288A 公开(公告)日: 2007-07-04
发明(设计)人: 洪权;朴恩实;张民植 申请(专利权)人: 海力士半导体有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L29/788;H01L29/51;H01L21/8247;H01L21/336;H01L21/28
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 张波
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及一种非易失性存储器件,其具有形成在浮置栅极和控制栅极之间的栅极电介质膜。该栅极电介质膜通过形成氧化物膜和ZrO2/Al2O3/ZrO2(ZAZ)膜而形成。因此,可以改善非易失性存储器件的可靠性且同时确保高耦合率。
搜索关键词: 闪存 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种非易失性存储器件,包括:隧道电介质膜,形成在半导体衬底之上;浮置栅极,形成在所述隧道电介质膜之上;栅极电介质膜,形成在所述浮置栅极之上,所述栅极电介质膜具有ZrO2-Al2O3-ZrO2(ZAZ)结构,所述ZAZ结构包括第一ZrO2膜、所述第一ZrO2膜之上的Al2O3膜、以及所述Al2O3膜之上的第二ZrO2膜;以及控制栅极,形成在所述栅极电介质膜之上。
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