[发明专利]处理和检测通路的方法无效

专利信息
申请号: 200610106460.8 申请日: 2006-04-22
公开(公告)号: CN1897793A 公开(公告)日: 2007-01-17
发明(设计)人: A·莱昂 申请(专利权)人: 惠普开发有限公司
主分类号: H05K3/40 分类号: H05K3/40;G01R31/28
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨松龄
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供一种处理与基片(21)连接的通路(10)的方法和检测通路(10)的方法。无铅焊料糊(60)的图案涂加在通路(10)的孔(13)周围。焊糊(60)回流形成通路(10)的焊盘(12)上的无铅焊料的图案,其仅覆盖在焊盘(12)的部分表面区域一部分,焊料糊基本上对称地定位于孔(13)的相对侧面。在回流中产生的焊剂不足以塞住孔(13)。可通过包括共线的第一和第二边缘和具有相对于焊盘(12)上的无铅焊料图案的优选的方位的片状探针探测无铅焊料。
搜索关键词: 处理 检测 通路 方法
【主权项】:
1.一种处理与基片连接的通路的方法,包括:将模板与基片对准成直线,模板包括具有大量孔和防护的图案;将模板与基片连接,使防护覆盖穴孔和通路的焊盘的第一部分,并且将孔定位在焊盘的第二部分上;将无铅焊料糊涂到模板上,从而仅在第二部分印制焊糊,防护防止焊料糊进入孔内;从基片上除去模板;并且回流焊料糊,使焊剂流经孔排出,无铅焊料的分离的部分定位在孔的周围,并且仅润湿焊盘的部分表面区域。
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