[发明专利]光学记录介质和将数据光学记录在其中的方法无效
| 申请号： | 200610106260.2 | 申请日： | 2003-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN1956077A | 公开（公告）日： | 2007-05-02 |
| 发明（设计）人： | 青岛正贵;井上弘康;三岛康儿 | 申请（专利权）人： | TDK株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/24 | 分类号： | G11B7/24;G11B7/243 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李颖 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种光学记录介质，包括：基底、在基底上形成的含有选自C、Si、Ge和Sn的元素作为主要成分的第一记录层、位于第一记录层附近的并含有选自C、Si、Ge和Sn的但是与第一记录层中含有的主要成分不同的元素作为主要成分的第二记录层。根据这样形成的光学记录介质，通过在其上投射波长为350nm－450nm的激光束，可以在其中光学记录数据和从其中重现数据，该光学记录介质包括两个或者多个记录层，它能够减少重现信号的噪声电平，并提高C/N比。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 记录 介质 数据 中的 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光学记录介质，包括：基底；在基底上由无机材料形成的含有选自C、Si、Ge和Sn的元素作为主要成分，以致该元素的含量在所包含的各元素中为最多的第一记录层；位于第一记录层附近，由无机材料构成，含有选自C、Si、Ge和Sn的但是与第一记录层中含有的主要成分不同的元素作为主要成分，以致该元素的含量在所包含的各元素中为最多的第二记录层，其中将从包括Cu、Au、Ag、Pd、Pt、Fe、Ti、Mo、W和Mg的组中选出的至少一种元素加入到第一记录层和/或第二记录层中。
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