[发明专利]一种衍射光谱测量系统

摘要

一种衍射光谱测量系统，属于光学测量、光学仪器和教学仪器设备等技术领域，该衍射光谱测量系统由活动式可折叠水平支架A和具有相同水平基面两个底座组成；其特征在于具有相同水平基面两个底座基本成钝角设置，双面反射平面镜B两个面都镀有半反射膜；背面镀膜反射光栅C由刻有高密透射光栅的光栅条纹面I和镀有起半反射功能的析光膜对望远镜内的辅助光起反射作用的半反射面II两个面组成；本发明衍射光谱测量系统，代替分光计光栅衍射光谱测量过程中的用于光路调节的平面镜和用于光谱测量的光栅，使得光路调节和光谱测量的两个步骤同时完成，而且尤为重要的是避免了将双面反射平面镜B从活动式可折叠水平支架A的底座上取出，就可直接进行光谱测量，同时确保光栅衍射光谱测量的精度。

主权项

1.一种衍射光谱测量系统，由活动式可折叠水平支架A双面反射平面镜B、背面镀膜反射光栅C组成；活动式可折叠水平支架A由可折叠的两个底座组成，两个底座具有相同的水平基面，并且具有与双面反射平面镜B和背面镀膜反射光栅C厚度吻合的凹槽，将双面反射平面镜B和背面镀膜反射光栅C放置其上，其特征在于具有相同的水平基面的、避免了将双面反射平面镜B从活动式可折叠水平支架A的底座上取出并可直接进行光谱测量的两个的底座成钝角设置，其角度为120°～180°，对望远镜内的辅助光都起到反射作用的双面反射平面镜B的两个面都镀有半反射膜；背面镀膜反射光栅C是一种双面结构的具有双重功能的光栅，它由刻有高密透射光栅的光栅条纹面I和镀有起半反射功能的析光膜对望远镜内的辅助光起反射作用的半反射面II两个面组成，半反射面II的析光膜用真空镀氟化镁，根据其析光膜的厚度，透射光强度与反射光强度之比为50∶50。